Device and method for measuring the parameters of a sensor based on nanostructured semiconductor oxides in the range of the order of microwatts

Abstract

Dispozitivul de măsurare a parametrilor senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaților include o sursă de tensiune de referință reglabilă, conectată în serie cu un senzor cercetat și o rezistentă etalon, căderea totală a tensiunii pe senzor și rezistența etalon și, separat, căderea de tensiune pe rezistența etalon fiind aplicate la intrările a două convertoare analogic-digitale ale unui microcontroler prin două amplificatoare operaționale, ieșirile microcontrolerului sunt conectate print-un convertor digital-analogic la intrarea sursei de tensiune de referință reglabilă și la un ecran pentru afișarea rezultatelor obținute.

The device for measuring parameters of a sensor based on nanostructured semiconductor oxides in the range of the order of microwatts comprises an adjustable reference voltage source, connected in series to a test sensor and a standard resistance. The total voltage drop across the sensor and the standard resistance, and separately, the voltage drop across the standard resistance being applied to the inputs of two analog-to-digital converters of a microcontroller through two operational amplifiers, the outputs of the microcontroller are connected by a digital-to- analog converter to the input of the adjustable reference voltage source and to a screen for displaying the obtained results.