Dispozitiv de măsurare a parametrilor senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor

Abstract

Dispozitivul de măsurare a parametrilor senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor include o sursă de tensiune de referinţă reglabilă, conectată în serie cu un senzor cercetat și o rezistentă etalon, căderea totală a tensiunii pe senzor și rezistenţa etalon și, separat, căderea de tensiune pe rezistenţa etalon fi ind aplicate la intrările a două convertoare analogic-digitale ale unui microcontroller prin două amplifi catoare operaţionale, ieșirile microcontrolerului sunt conectate print-un convertor digital-analogic la intrarea sursei de tensiune de referinţă reglabilă și la un ecran pentru afi șarea rezultatelor obţinute.

The device for measuring parameters of a sensor based on nanostructured semiconductor oxides in the range of the order of microwatts comprises an adjustable reference voltage source, connected in series to a test sensor and a standard resistance. The total voltage drop across the sensor and the standard resistance, and separately, the voltage drop across the standard resistance being applied to the inputs of two analog-to-digital converters of a microcontroller through two operational amplifi ers, the outputs of the microcontroller are connected by a digital-to-analog converter to the input of the adjustable reference voltage source and to a screen for displaying the obtained results.