Determinarea indicelui de refracţie în ghidurile de undă planare

Abstract

Ghidurile de undă nanostratificate cu gropi cuantice posedă proprietăţi de birefringenţă, chiar şi cele pe baza materialelor izotrope [1 - 3]. Cele mai sensibile metode de studiu al proprietăţilor de birefringenţă în nanoghiduri sunt metodele spectroscopiei de interferenţă. O imagine tipică a interferenţei poate fi observată în spectrele de interferenţă ale nanostructurilor birefringente. Metoda elaborată permite analiza dependenţei spectrale a indicelui de refracţie pentru undele luminoase ordinară (Ер) şi extraordinară (Еs) din spectrele de interferenţă ale absorbţiei sau reflexiei nanostraturilor. Poziţia maximelor sau minimelor ale spectrelor de interferenţă pot fi determinate utilizând un soft simplu („Origin”) pentru calculator.

Nanolayered waveguides with quantum wells possess birefringence properties, even those based on isotropic materials [1 - 3]. The most sensitive methods of studying birefringence properties in nanowaveguides are the methods of interference spectroscopy. A typical image of interference can be observed in the interference spectra of birefringent nanostructures. The elaborated method permits to analyze the spectral dependence of the refractive index for the ordinary (Ер) and extraordinary (Еs) lightwaves from absorption or reflection interference spectra of nanolayers. The maxima and minima positions of the interference spectra can be determined using simple PC software „Origin”.