Analiza comparativă a metodelor de testare a dispozitivelor de memorie digitală

dc.contributor.author	BALMUȘ, Aurelia
dc.contributor.author	GRIȚCOV, Serghei
dc.date.accessioned	2019-02-27T09:46:25Z
dc.date.available	2019-02-27T09:46:25Z
dc.date.issued	2016
dc.identifier.citation	BALMUȘ, Aurelia, GRIȚCOV, Serghei . Analiza comparativă a metodelor de testare a dispozitivelor de memorie digitală, [Resursă electronică]. In: Conferința Tehnico-Științifică a Colaboratorilor, Doctoranzilor și Studenților, Universitatea Tehnică a Moldovei, 26-28 noiembrie, 2015. Chișinău, 2016, vol. 1, pp. 50-53. ISBN 978-9975-45-440-7. ISBN 978-9975-45-441-4 (Vol.1).	en_US
dc.identifier.isbn	978-9975-45-543-5
dc.identifier.uri	http://repository.utm.md/handle/5014/661
dc.description	Resursă electronică	en_US
dc.description.abstract	În lucrarea dată sunt prezentate metodele de testare a dispozitivelor de memorie digitală. Este reprezentată analiza comparativă a metodelor clasice de testare, testelor march și testelor pseudo-inelare. Sunt evidențiate parametrii principali ale testelor: complexitatea algoritmică și hardware.	en_US
dc.language.iso	ro	en_US
dc.publisher	Tehnica UTM	en_US
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/	*
dc.subject	defecte	en_US
dc.subject	metoda exhaustivă	en_US
dc.subject	metoda pseudoexhaustivă	en_US
dc.subject	testele March	en_US
dc.subject	testarea pseudoinelară	en_US
dc.title	Analiza comparativă a metodelor de testare a dispozitivelor de memorie digitală	en_US
dc.type	Article	en_US